清远扫描电镜分析原理图

扫描电镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)是一种高级的显微镜,可以对微小物体进行高分辨率、高对比度的成像。它通过扫描电子束来获取物体的电子图像,然后将这些图像重构成光学图像以显示在屏幕上。扫描电镜可以用于研究各种材料的微观结构,包括半导体、氧化物、金属、生物组织等。

扫描电镜分析原理图如下:

1. 样品准备

扫描电镜成像需要准备一个样品。通常使用薄膜或晶体作为样品。将样品置于扫描电镜载物台上,并使用扫描电镜夹具将其固定。

2. 扫描电荷

扫描电镜使用扫描电荷来扫描样品表面。扫描电荷由两个电极组成,一个正电极和一个负电极。当电流通过正电极时,负电极会吸引电子,这些电子经过样品表面返回到正电极。这种扫描方式称为“场扫描”。

3. 电子图像

当扫描电荷扫描样品表面时,电子被撞击并产生图像。这些电子图像被记录在扫描电镜的探测器中。扫描电镜使用探测器来放大和处理这些图像。

4. 图像重构

扫描电镜将电子图像记录在探测器中,然后使用计算机算法将这些图像重构成光学图像。这个过程包括将电子图像转换为光学图像,将扫描仪的旋转和倾斜转换为图像中的运动,以及校正扫描仪的误差。

5. 显示

最终,扫描电镜将重建的光学图像显示在屏幕上。扫描电镜可以通过调整放大倍数、焦距和光强等参数来优化图像质量。

扫描电镜分析原理图显示了扫描电镜成像的基本过程。通过使用扫描电镜,我们可以研究材料的微观结构,并获得关于材料性质的重要信息。

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